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半導體激光器 激光切割 激光器
  白皮書


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白皮書簡介

顆粒測量是對樣品中的顆粒進行計數(shù)和篩分的過程,可對空氣或液體進行測量。此技術(shù)在半導體晶圓制造等 工業(yè)制程工藝中非常重要,流體的高純度是其中的一項要求,如果存在顆粒污染物,則會導致產(chǎn)品報廢或系統(tǒng)損壞。




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